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【報告】第8回 全検カンファレンスを開催しました

下記の通り、第8回全検カンファレンスを開催いたしました。

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テーマ:AI時代の検定試験:影響と課題
講 師:電気通信大学 教授 植野真臣 氏

日 時:2023年8月25日(金)15:00-16:30
場 所:当機構会議室およびオンライン会議ツール(ZOOM)
参加者:全検会員 24団体 41名(申込人数)

近年注目を集める人工知能関連の技術が検定試験に与える影響や課題について、電気通信大学の植野教授に整理して頂き、AI時代の教育と検定試験の在り方について参加者とともに考えることができました。

【全検カンファレンスとは】
各分野の専門家をお招きし、会員の皆様と意見交換を行い、これからの検定試験のあり方について考え一丸となって検定業界全体の質の向上を目指すことを目的としている会です。

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